Universidad Pública de Navarra



Año Académico: 2018/2019 | Otros años:  2017/2018  |  2016/2017  |  2015/2016 
Máster Universitario en Ingeniería de Telecomunicación por la Universidad Pública de Navarra
Código: 73092 Asignatura: Tecnologías de visión para metrología
Créditos: 6 Tipo: Optativa Curso: 2 Periodo: 1º S
Departamento: Ingeniería Eléctrica, Electrónica y de Comunicación
Profesores
VILLANUEVA LARRE, ARANTZAZU (Resp) DEL CERRO REYES, BEATRIZ

Partes de este texto:

 

Módulo/Materia

Módulo: Módulo de Especialidad en Instrumentación (ME2)

Materia: M6 - Instrumentación

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Descriptores

Metrología, visión industrial, rayos x, termografía, sonografía

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Competencias genéricas

CG1 - Capacidad para proyectar, calcular y diseñar productos, procesos e instalaciones en todos los ámbitos de la ingeniería de telecomunicación.

CG2 - Capacidad para la dirección de obras e instalaciones de sistemas de telecomunicación, cumpliendo la normativa vigente, asegurando la calidad del servicio.

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Competencias específicas

CIN1. Adquirir conocimientos teóricos y prácticos sobre los principales sistemas de medida y control para procesos industriales.

CIN4. Adquirir conocimientos teóricos y prácticos sobre los equipos de visión diseñados para metrología así como de los algoritmos de visión por computador.

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Resultados aprendizaje

R1. Instrumentación industrial: Conocimiento de los principales sistemas de medida y control para procesos industriales.

R4. Tecnologías de visión para metrología: Conocimiento de los equipos de visión diseñados para metrología así como de los algoritmos de visión por computador.

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Metodología

Metodología - Actividad Horas Presenciales Horas no presenciales
A-1 Clases expositivas/participativas 36  
A-2 Prácticas    
A-3 Debates, puestas en común, tutoría grupos 2  
A-4 Elaboración de trabajo 15 40
A-5 Lecturas de material   10
A-6 Estudio individual   40
A-7 Exámenes, pruebas de evaluación 4  
A-8 Tutorías individuales 3  
     
Total 60 90

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Relación actividades formativas-competencias

Competencia Actividad formativa
CIN1 A-1,A-3, A-4,A-6,A7,A-8
CIN4 A-1,A-3, A-4,A-6,A7,A-8
CE15 A-1,A-3, A-4,A-6,A7,A-8
CG1 A-1,A-3,A-4
CG2 A-1,A-5

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Idiomas

Las clases se impartirán en castellano

El material estará salvo excepciones muy puntuales en inglés

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Evaluación

Resultado de aprendizaje Sistema de evaluación Peso (%) Carácter recuperable
R1, R4 A-7. Examen (nota mínima:4/10) 60 SI
R1, R4 A-4. Elaboración trabajo 40 NO

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Contenidos

En esta asignatura se revisarán las tecnologías esenciales para medida y metrología, principalmente en la industria, revisando los principios básicos de funcionamiento, teoría básica con especial incidencia en la aplicación. La elaboración de un trabajo profundizará el alguno de los aspectos de la disciplina.

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Temario

1. Técnicas en banda visible               

2. Termografía

3. Multi/Hiper espectral       

4. Rayos X

5. Sonografía

 

Elaboración trabajo

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Bibliografía

Acceda a la bibliografía que su profesor ha solicitado a la Biblioteca.


Richard Hartley and Andrew Zisserman. 2003. Multiple View Geometry in Computer Vision (2 ed.). Cambridge University Press, New York, NY, USA.

 

Emanuele Trucco and Alessandro Verri. 1998. Introductory Techniques for 3-D Computer Vision. Prentice Hall PTR, Upper Saddle River, NJ, USA

 

Michael Vollmer and Klaus-Peter Möllmann, Infrared Thermal Imaging: Fundamentals Research and Applications

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Lugar de impartición

Aula y laboratorio pertenciente al Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica

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