Universidad Pública de Navarra



Año Académico: 2017/2018 | Otros años:  2016/2017  |  2015/2016 
Máster Universitario en Ingeniería de Telecomunicación por la Universidad Pública de Navarra
Código: 73092 Asignatura: Tecnologías de visión para metrología
Créditos: 6 Tipo: Optativa Curso: 2 Periodo: 1º S
Departamento: Ingeniería Eléctrica y Electrónica
Profesores
VILLANUEVA LARRE, ARANTZAZU (Resp) DEL CERRO REYES, BEATRIZ

Partes de este texto:

 

Módulo/Materia

Módulo: Especialidad en Instrumentación

Materia: Instrumentación

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Descriptores

Metrología, visión industrial, rayos x, termografía, sonografía

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Competencias genéricas

CG1 - Capacidad para proyectar, calcular y diseñar productos, procesos e instalaciones en todos los ámbitos de la ingeniería de telecomunicación.

CG2 - Capacidad para la dirección de obras e instalaciones de sistemas de telecomunicación, cumpliendo la normativa vigente, asegurando la calidad del servicio.

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Competencias específicas

CE15. Capacidad para la integración de tecnologías y sistemas propios de la Ingeniería de Telecomunicación, con carácter generalista, y en contextos más amplios y multidisciplinares como por ejemplo en bioingeniería, conversión fotovoltaica, nanotecnología, telemedicina.

CIN1. Adquirir conocimientos teóricos y prácticos sobre los principales sistemas de medida y control para procesos industriales.

CIN4. Adquirir conocimientos teóricos y prácticos sobre los equipos de visión diseñados para metrología así como de los algoritmos de visión por computador

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Resultados aprendizaje

1. Instrumentación industrial: Conocimiento de los principales sistemas de medida y control para procesos industriales.

4. Tecnologías de visión para metrología: Conocimiento de los equipos de visión diseñados para metrología así como de los algoritmos de visión por computador

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Metodología

Metodología - Actividad

Horas Presenciales

Horas no presenciales

A-1 Clases expositivas/participativas

36

 

A-2 Prácticas

   

A-3 Debates, puestas en común, tutoría grupos

2

 

A-4 Elaboración de trabajo

15

40

A-5 Lecturas de material

 

10

A-6 Estudio individual

 

40

A-7 Exámenes, pruebas de evaluación

4

 

A-8 Tutorías individuales

3

 
     

Total

60

90

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Relación actividades formativas-competencias

Competencia

Actividad formativa

CIN1

A-1,A-3, A-4,A-6,A7,A-8

CIN4

A-1,A-3, A-4,A-6,A7,A-8

CE15

A-1,A-3, A-4,A-6,A7,A-8

CG1

A-1,A-3,A-4

CG2

A-1,A-5

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Idiomas

Las clases se impartirán en castellano

El material estará salvo excepciones muy puntuales en inglés

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Evaluación

Resultado de aprendizaje

Sistema de evaluación

Peso (%)

Carácter recuperable

1.,4.

A-7. Examen (nota mínima:4/10)

60

SI

1.,4.

A-4. Elaboración trabajo

40

NO

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Contenidos

En esta asignatura se revisarán las tecnologías esenciales para medida y metrología, principalmente en la industria, revisando los principios básicos de funcionamiento, teoría básica con especial incidencia en la aplicación. La elaboración de un trabajo profundizará el alguno de los aspectos de la disciplina.

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Temario

1. Técnicas en banda visible               

2. Termografía

3. Multi/Hiper espectral       

4. Rayos X

5. Sonografía

 

Elaboración trabajo

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Bibliografía

Acceda a la bibliografía que su profesor ha solicitado a la Biblioteca.


Richard Hartley and Andrew Zisserman. 2003. Multiple View Geometry in Computer Vision (2 ed.). Cambridge University Press, New York, NY, USA.

 

Emanuele Trucco and Alessandro Verri. 1998. Introductory Techniques for 3-D Computer Vision. Prentice Hall PTR, Upper Saddle River, NJ, USA

 

Michael Vollmer and Klaus-Peter Möllmann, Infrared Thermal Imaging: Fundamentals Research and Applications

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Lugar de impartición

Aula y laboratorio pertenciente al Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica

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