Código: 73092 | Asignatura: Tecnologías de visión para metrología | ||||
Créditos: 6 | Tipo: Optativa | Curso: 2 | Periodo: 1º S | ||
Departamento: | |||||
Profesorado: | |||||
VILLANUEVA LARRE, ARANTZAZU (Resp) [Tutorías ] | LARUMBE BERGERA, ANDONI [Tutorías ] | ||||
DEL CERRO REYES, BEATRIZ [Tutorías ] |
Módulo: Módulo de Especialidad en Instrumentación (ME2)
Materia: M6 - Instrumentación
En esta asignatura se revisarán las tecnologías esenciales para medida y metrología, principalmente en la industria, revisando los principios básicos de funcionamiento, teoría básica con especial incidencia en la aplicación. La elaboración de un trabajo profundizará el alguno de los aspectos de la disciplina.
CG1 - Capacidad para proyectar, calcular y diseñar productos, procesos e instalaciones en todos los ámbitos de la ingeniería de telecomunicación.
CG2 - Capacidad para la dirección de obras e instalaciones de sistemas de telecomunicación, cumpliendo la normativa vigente, asegurando la calidad del servicio.
CIN1. Adquirir conocimientos teóricos y prácticos sobre los principales sistemas de medida y control para procesos industriales.
CIN4. Adquirir conocimientos teóricos y prácticos sobre los equipos de visión diseñados para metrología así como de los algoritmos de visión por computador.
R1. Instrumentación industrial: Conocimiento de los principales sistemas de medida y control para procesos industriales.
R4. Tecnologías de visión para metrología: Conocimiento de los equipos de visión diseñados para metrología así como de los algoritmos de visión por computador.
Metodología - Actividad | Horas Presenciales | Horas no presenciales |
A-1 Clases expositivas/participativas | 36 | |
A-2 Prácticas | ||
A-3 Debates, puestas en común, tutoría grupos | 2 | |
A-4 Elaboración de trabajo | 15 | 40 |
A-5 Lecturas de material | 10 | |
A-6 Estudio individual | 40 | |
A-7 Exámenes, pruebas de evaluación | 4 | |
A-8 Tutorías individuales | 3 | |
Total | 60 | 90 |
Las clases se impartirán en castellano
El material estará salvo excepciones muy puntuales en inglés
Resultado de aprendizaje | Sistema de evaluación | Peso (%) | Carácter recuperable |
R1, R4 | A-7. Examen (nota mínima:4/10) | 60 | SI |
R1, R4 | A-4. Elaboración trabajo | 40 | NO |
1. Técnicas en banda visible
2. Termografía
3. Multi/Hiper espectral
4. Rayos X
5. Sonografía
Elaboración trabajo
Acceda a la bibliografía que el profesorado de la asignatura ha solicitado a la Biblioteca.
Richard Hartley and Andrew Zisserman. 2003. Multiple View Geometry in Computer Vision (2 ed.). Cambridge University Press, New York, NY, USA.
Emanuele Trucco and Alessandro Verri. 1998. Introductory Techniques for 3-D Computer Vision. Prentice Hall PTR, Upper Saddle River, NJ, USA
Michael Vollmer and Klaus-Peter Möllmann, Infrared Thermal Imaging: Fundamentals Research and Applications
Aula y laboratorio pertenciente al Departamento de Ingeniería Eléctrica y Electrónica