Universidad Pública de Navarra - Nafarroako Univertsitate Publikoa
Universidad Pública de Navarra
| Código: 71525 | Asignatura: Difracción de Rayos X | ||||
| Créditos: 3 | Tipo: Optativa | Curso: 1 | Periodo: 1º S | ||
| Departamento: | |||||
| Profesorado: | |||||
| GARCIA CASTILLO, JESUS MARIA [Tutorías ] | |||||
Descripción/Contenidos
Simetría de cristales. Red cristalina. Grupos espaciales. Difractómetro de monocristal. Toma de datos. Indexado y refino. Métodos de resolución estructural. Desorden. Bases de datos. Difracción de Rayos X en polvo.
Competencias genéricas
G-1 Integrar conceptos avanzados de los diferentes aspectos de la Síntesis Química, y aplicarlos a la resolución de problemas en entornos nuevos dentro de contextos más amplios o multidisciplinares, en el ámbito de la investigación o la industria
G-2 Analizar de manera crítica la información de la bibliografía e integrarla para plantear y contextualizar un tema de investigación en el ámbito de la Síntesis Química
Competencias específicas
E-1 Comprender los fundamentos de la técnica de difracción de Rayos X para la determinación estructural
E-2 Utilizar bases de datos y extraer información de difractogramas de rayos X, relacionando la estructura con el diagrama de difracción
E-3 Integrar la difracción de RX con otras técnicas de caracterización
E-4 Seleccionar y utilizar técnicas espectroscópicas y de difracción para resolver problemas estructurales, realizar seguimientos de reactividad y abordar estudios cinéticos y mecanísticos
E-5 Analizar, discutir y obtener conclusiones de los datos obtenidos de manera autónoma en los experimentos de laboratorio relacionándolos con las teorías apropiadas y utilizando fuentes bibliográficas primarias.
Resultados aprendizaje
1) Seleccionar y utilizar técnicas espectroscópicas y de difracción para resolver problemas estructurales, realizar seguimientos de reactividad y abordar estudios cinéticos y mecanísticos.
2) Poseer las habilidades de aprendizaje que les permitan continuar estudiando de un modo autónomo.
3) Ser capaz de trabajar en equipo y adaptarse a equipos multidisciplinares.
4) Analizar y discutir y obtener conclusiones sobre los datos obtenidos de manera autónoma en los experimentos de laboratorio, relacionándolos con las teorías apropiadas y utilizando fuentes las bibliográficas primarias.
Metodología
| Metodología - Actividad | Horas Presenciales | Horas no presenciales |
| A-1 Clases expositivas/participativas | 12 | |
| A-2 Prácticas | 8 | |
| A-3 Debates, puestas en común, tutoría grupos | 5 | |
| A-4 Elaboración de trabajo | 50 | |
| A-5 Lecturas de material | ||
| A-6 Estudio individual | ||
| A-7 Exámenes, pruebas de evaluación | ||
| A-8 Tutorías individuales | ||
| Total | 25 | 50 |
Evaluación
| Resultado de aprendizaje | Sistema de evaluación | Peso (%) | Carácter recuperable |
| R1, R4 | examen | 40-50 | Recuperable mediante prueba escrita |
| R1, R2, R3, R4 | trabajos prácticos | 50-60 | Recuperable entregando el trabajo corregido |
Temario
TEMA 1: Cristalografía, acercamiento interdisciplinar. Introducción de los conceptos requeridos para entender los compuestos. Definición del material. Ideas básicas sobre materia cristalina. Principios y Aplicaciones.
TEMA 2: Periodicidad y Simetría en los Materiales. Celda Elemental y Simetría. Red Cristalina. Redes de Bravais. Grupos Puntuales. Grupos Espaciales. Densidad y Número de Unidades en la Celda. Ejemplos y Aplicaciones.
TEMA 3: Difracción de Rayos X en Policristal. Cristalografía y Técnicas de Difracción en Muestra Policristalina. Interacción de los Rayos X con la Materia. Interpretación de un Difractograma de Rayos X. Obtención de los Parámetros de Celda y del Grupo Espacial. Ejemplos y Aplicaciones.
TEMA 4: Difraccion de Rayos X en Monocristal. Estudios de las direcciones e internsidades de los rayos difractados. Obtención de las Coordenadas. Unidad Asimétrica. Cálculos Cristaloquímicos. Difractrómetro automático. Ejemplos y Aplicaciones.
TEMA 5: Integración de la Difracción de Rayos X con Otras Técnicas de caracterización. Determinación de la Densidad del material. Análisis Termodiferencial y Termogravimétrico. Termodifractrometría. Dinámica del material. Fluorescencia de Rayos X, Absorción Atómica, ICP-AES, Microscopía Electrónica de Barrido. Otros métodos espectroscópicos: Mössbauer, Infrarrojo y Raman. Análisis Composicional. Ejemplos y Aplicaciones.
TEMA 6: Trabajo de gabinete. Interpretación de los resultados. Criterios de análisis de los mismos. Informe final.
Bibliografía
Acceda a la bibliografía que el profesorado de la asignatura ha solicitado a la Biblioteca.
1.- Amorós, J.L. (1990). "El Cristal. Morfología, Estructura y Propiedades Físicas". Ed. Atlas.
2.- Azaroff, L., Buerger, M.J. (1958). "The Powder Method in X-ray Crystallography". Ed. McGraw-Hill, New York.
3.- Bermúdez Polonio, J. (1981). "Métodos de Difracción de Rayos X. Principios y Aplicaciones". Ed. Pirámide.
4.- Borchardt-Ott, W. (1995). "Crystallography". (Second Edition). Ed. Springer-Verlag.
5.- Clegg, W. (1998). "Crystal Structure Determination". Ed. Oxford University Press, New York.
6.- Eberhart, P. (1989). "Analyse Estructurale et Chemique des Materiaux". Ed. Dunod. Paris.
7.- Giacovazzo, C. (2000). "Fundamentals of Crystallography". Ed. Oxford University Press, New York.
8.- Hawthorne, F.C. (1988). "Spectroscopic methods in mineralogy and geology. Reviews in Mineralogy", vol. 18, Mineral. Soc. Amer., Washington, p698.
9.- International Tables for X-ray Crystallography. (1987). Vol. A. Space Group Symmetry. D. Reidel Publ. Co.
10.- Jenkins, R., De Vries, J. L. (1972). "Worked Examples in X-ray Analysis". Ed. MacMillan.
11.- Jenkins, R. (1987). "Methods and Practices in X-ray Powder Diffraction". International Center for Diffraction Data.
12.- Jenkins, R., Snyder, R.L. (1996) . "Introduction to X-ray Powder Diffractometry". John Wiley & Sons. New York.
13.- Jouffrey, B., Bourret, A., Colliex, C. (1983). "Microscopie Electronique en Science des Materiaux". Ed. C.N.R.S., Paris.
14.- Kluig, H.P., Alexander, L.E. (1974). "X-ray Procedures: for Polycrystalline and Amorphous Materials". Ed. Wiley and Sons, New York.
15.- Krishna, P. (1989). "Recent Advances in X-ray Characterization of Materials". Ed. Pergamon.
16.- Nakamoto K. (1997). "Infrared and Raman Spectra of Inorganic and Coordination Compounds", Ed. John Wiley & Sons, New York.
17.- "Powder Diffraction File-Inorganic and Organic" (2001). Pennsylvania. USA.
18.- Putnis, A. (1992). "Introduction to Mineral Sciences". Ed. Cambridge University Press.
19.- Rodriguez Gallego, M. (1982). "La Difracción de los Rayos X". Ed. Alhambra.
20.- Shuvalov, L.A. (1988). "Modern Crystallography IV. Physical Properties of Crystals". Ed. Springer-Verlag.
21.- Vainshtein, B.K. (1981,1982). "Modern Crystallography I, II. Fundamentals of of Crystals". Ed. Springer-Verlag, Berlin.
22.- Zussman, J. (1977). "Physical Methods in Determinative Mineralogy". Ed. Academic Press.
- Revistas Especializadas en los Diferentes Tópicos (algunos ejemplos):
- Diferentes páginas Web sobre Cristalografía de rayos X (www.xtal.iqfr.csic.es, www.uned.es/cristamine, www.ehu.es/imacris...).